УДК: 621.31 ISBN: 978-3-0365-1176-4
Challenges and New Trends in Power Electronic Devices Reliability
05.10.2023 -- Basel : MDPI
Книга
Навчальне видання
Мова:eng
Відомості про
відповідальність : E. Chiodo, P. De Falco, L. P. Di Noia
(eds.)
Умови доступу :
http://files.znu.edu.ua/files/Bibliobooks/Inshi74/0055179.pd
f
Дата внесення :
05.10.2023
Переглядів: 0
Популярність: 0%
